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Rastersondenmikroskope

Hersteller von Instrumeten und Zubehör für die Rastersondenmikroskopie.




Ein Rastersondenmikroskop ist ein nicht-optisches, physikalisch-technisches Instrument, das zur hochauflösenden, detaillierten Visualisierung von Probenoberflächen bis hinab zu einem Bereich von 10 pm (Pikometer) eingesetzt wird und damit die Untersuchung und Abbildung von Oberflächen auf atomarer Ebene ermöglicht. So können beispielsweise die Oberflächen von Metallen, Halbleitern, Werkstoffen, Nanomaterialien, Keramiken, organischen Stoffen, Polymeren mit hohem Molekulargewicht oder auch biologischen Proben ohne vorangehende Beschichtung sichtbar gemacht werden, wobei die Oberflächenmerkmale mit einer Vergrößerung von 1 zu einer Million darstellbar sind. Das Verfahren selbst heisst Rastersondenmikroskopie.

Unterschieden werden - je nach Art der Wechselwirkung - verschiedene Typen der Rastersondenmikroskope; im einzelnen: Magnetkraftmikroskope (MKM), Rasterkraftmikroskope (RKM), Rastertunnelmikroskope (RTM), optische und akustische Rasternahfeldmikroskope.

In der folgenden Übersicht finden Sie Hersteller, deren Produkte und Anbieter von Rastersondenmikroskopen verschiedener Bauart und mit unterschiedlichen Rasterungsmethoden für die Anwendung in Labor, Forschung, Lehre und Industrie.



Inhalt, Gliederung


Internationale Hersteller und Anbieter
Deutschland
USA
Grossbritannien
Schweiz
Japan
Russland
Asien



Internationale Hersteller und Anbieter


Hitachi
Innovative scanning probe microscopy (SPM) products offering extraordinary levels of performance, value, and ease-of-use for a wide range of application from surface topography to a wide variety of nanoscale surface property measurements - [e]

Jeol
... a leading supplier of scanning electron microscopes (SEMs), transmission electron microscopes (TEMs), scanning probe microscopes (SPMs), mass spectrometers, NMR spectrometers, and semiconductor tools for scientific and industrial purposes - [e]

Lot-Oriel
Nanotechnology, SPM, AFM - [e]

Shimadzu
High resolution scanning probe microscopes - [e]



Deutschland


Anfatec Instruments AG
Measurement Science and Technology & Scanning Probe Microscopy - [e]

DME Nanotechnologie GmbH
... ist ein Unternehmen, dass sich im Wesentlichen mit der Entwicklung und Herstellung von Rastersondenmikroskopen befasst - [d, e]

Fries Research & Technology GmbH
... setzt bei der Entwicklung und Fertigung von Oberflächenmessgeräten überwiegend optische Messtechnik ein - [d]

Jeol Deutschland
Elektronenoptik und Rastersondenmikroskopie - [d]

JPK Instruments AG
... is a developer of a new generation of scanning probe microscopes for soft matter and life sciences - [e]

Triple-O Microscopy GmbH
SNOM; AFM microscopes - [e]

WITec
... is a manufacturer of high-resolution optical and scanning probe microscopy solutions for scientific and industrial applications: Scanning Near-field optical Microscopy (SNOM or NSOM); Atomic Force Microscopy (AFM); Confocal Microscopy; Raman Microscopy - [e]



USA


Advanced Surface Microscopy
... solves Processing and Materials Problems using Scanning Probe Microscopy since 1990 - [e]

Angstrom Advanced Inc.
... offers a wide variety of atomic force microscopes (AFM's) to suit your research needs - [e]

Micro Photonics
... is the leading source of advanced instrumentation for scientific and industrial research - [e]

Nanoscience Instruments, Inc.
... is your one source for a variety of AFM systems, probes, accessories, and related nanoscience tools - [e]

Novascan Technologies, Inc.
... offers Atomic Force Microscopes as well as specialized Atomic Force Microscopes that can be integrated with a variety of complimentary instruments such as confocal microscopes, Laser optical traps, and a host of optical microscope setups - [e]

Park Systems
Park Systems' AFM solutions are derived from our innovations and meet the most rigorous scientific research and nano-manufacturing process control requirements across various fields - [e]

PolyInsight
... is an independent analytical testing laboratory specializing in the application of atomic-force microscopy (AFM) to materials research and development - [e]

RHK Technology
... develops and manufactures a complete line of scanning probe microscopes for the performance and customization needs of research scientists around the world - [e]

Veeco Instruments Inc.
... provides the tools to make, measure and visualize today's world-changing technologies - [e]



Grossbritannien


Infinitesima Limited
... is a dynamic company that is paving the way to a new era in microscopy - [e]



Schweiz


Ferrovac
Portable scanning probe microscope in a UHV-suitcase etc. - [e]

Nanosensors
... heads the world market with its innovative high quality scanning probes for SPM (Scanning Probe Microscopy) - [e]

Nanosurf AG
... research and development of scanning probe microscopes (SPM) and positioning devices with nanometre resolution - [e]



Japan


Unisoku Co., Ltd.
Scanning Probe Microscope (SPM) Systems comprising Load-Lock Chamber, Preparation Chamber and Observation Chamber is possible to exchange the probe and the sample while keeping in the Ultra High Vacuum and / or the Low Temperature - [e]



Russland


Nano Scan Technologies
Scanning probe microscopes (SPM, AFM, STM), Raman/AFM, confocal microscopes - [e]



Asien


Nanonics Imaging
... is the premier innovator of AFM and NSOM systems in the SPM market - [e]




Literaturempfehlungen und Bücher: Rastersondenmikroskope


Buchempfehlung

Bert Voigtlaender

Scanning Probe Microscopy:

This book explains the operating principles of atomic force microscopy and scanning tunneling microscopy. The aim of this book is to enable the reader to operate a scanning probe microscope successfully and understand the data obtained with the microscope. The chapters on the scanning probe techniques are complemented by the chapters on fundamentals and important technical aspects. This textbook is primarily aimed at graduate students from physics, materials science, chemistry, nanoscience and engineering, as well as researchers new to the field.

Springer; 2015


 


Aktualisiert am 15.11.2017.




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