Im Gegensatz zu den optischen und elektronenoptischen mikroskopischen Verfahren verwendet die Rastersondenmikroskopie Sonden, mit der die Oberfläche der zu untersuchenden Probe abgetastet wird. Der Rasterprozess erfolgt auf Grund von Wechselwirkungen zwischen Probe und Rastersonde.
Nachfolgend sind auch Informationsquellen zu abgeleiteten Methoden wie der Rasterkraftmikroskopie, der Rastertunnelmikroskopie, die Magnetkraftmikroskopie usw. aufgelistet.
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Bewegung im Nanokosmos
Forschern gelang es mit Hilfe eines Rasterkraftmikroskops die Bewegung von Molekülen, die in anderen größeren Molekülen eingesperrt sind, zu messen und zu kontrollieren.
Journal of Scanning Probe Microscopy ... typically covers atomic force microscopy (AFM), scanning tunneling microscopy (STM), near-field scanning optical microscopy (NSOM, or SNOM) and related technologies. American Scientific Publishers - [USA > e]
Optische Rasternahfeldmikroskopie Eine Methode für die Darstellung und Manipulation chromosomaler DNA. Dissertation, 2007. Universität des Saarlandes - [D > d]
Rastersondenmikroskopie mit Hochfrequenzsignalen Die Arbeit beschäftigt sich mit der Entwicklung und Verbesserung von Rastersondenmikroskopen durch den Anschluß eines Signalpfades für hochfrequente Wechselfelder (ca. 1 GHz). Dissertation, 2001. HU Berlin - [D > d]
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Literatur- und Buchempfehlungen zum Thema Rastersondenmikroskopie:
David G. Rickerby, Giovanni Valdrè, Ugo Valdrè, Giovanni Valdre, Ugo Valdre
This book presents a coherent synopsis of a rapidly evolving field. Subjects covered include diffraction contrast and defect analysis by conventional TEM lattice imaging, phase contrast and resolution limits in high resolution electron microscopy. Specialised electron diffraction techniques are also covered, as is the application of parallel electron energy loss spectroscopy and scanning transmission EM for subnanometer analysis. Materials analyzed include thin films, interfaces and non-conventional materials. WDS and EDS are treated, with an emphasis on phi(rhoZeta) techniques for the analysis of thin layers and surface films. Theoretical and practical aspects of ESEM are discussed in relation to applications in crystal growth, biomaterials and polymers. Recent developments in SPM are also described.
A comprehensive survey of the state of the art in electron and SPM, future research directions and prospective applications in materials engineering.
Springer; 2008
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