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Rastersondenmikroskopie



Rastersondenmikroskopie

Im Gegensatz zu den optischen und elektronenoptischen mikroskopischen Verfahren verwendet die Rastersondenmikroskopie Sonden, mit der die Oberfläche der zu untersuchenden Probe abgetastet wird. Der Rasterprozess erfolgt auf Grund von Wechselwirkungen zwischen Probe und Rastersonde.

Nachfolgend sind auch Informationsquellen zu abgeleiteten Methoden wie der Rasterkraftmikroskopie, der Rastertunnelmikroskopie, die Magnetkraftmikroskopie usw. aufgelistet.

Weitere Informationen zum Thema und ähnliche Themengebiete sowie Informationsquellen in englischer Sprache finden Sie im Menüfeld am linken Bildrand.



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Aktuelle Berichte


Bimodale Rasterkraftmikroskopie
Neue Methode zur Messung atomarer Kräfte - [d]

Rastersonden aus der Mikrowelle
Chemiker der Universität Jena verbessern Verfahren für die Rasterkraftmikroskopie - [d]



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Allgemeine Informationen und Grundlagen


Nanolithographie
... mit dem Rasterkraftmikroskop. Übersicht. Universität Hannover - [d]

Rasterkraftmikroskopie - Bilder
Auswahl verschiedener rasterkraftmikroskopisch aufgenommener Bilder. Universität Augsburg - [d]

Rastersensormethoden
... in der Nanotechnologie. Übersicht der einzelnen Methoden. Universität Hamburg - [d]

Rastertunnelmikroskopie und Rasterkraftmikroskopie
... - den Atomen auf den Pelz gerückt. Illustrierte Übersicht. Universität Regensburg - Format: PDF - [d]



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Vorlesungsskripten und Vorlesungsmaterialien


Magnetische und optische Rastersondenmikroskopie
Vorlesungsskript zur Dünnschichtphysik. Universität Jena - [d]

Magnetkraftmikroskopie
Grundlagen: Quantitative Magnetkraftmikroskopie. PTB - Format: PDF - [d]

Messmodi der Rasterkraftmikroskopie
Übersicht Hauptanwendungsgebiet: Bestimmung der Topographie. HTW Dresden - [d]

Rasterkraftmikroskopie
Rasterkraft- und Rastersondenmikroskopie als Werkzeug für nanostrukturierte Festkörper. Universität Graz - Format: PDF - [d]

Rasterkraftmikroskopie
Vorlesungsmaterialien. Universität Kaiserslautern - Format: PDF - [d]

Rasterkraftmikroskopie
Prinzip, Anwendungen, Aufnahmen. Universität Bonn - [d]

Rasterkraftmikroskopie (AFM)
Skript eines Seminarvortrags. Universität Regensburg - Format: PDF - [d]

Rastersondenmikroskopie
Seminarvortag - Format: PDF - [d]

Rastersondenmikroskopie
Skript eines Seminarvortrags. Universität Regensburg - Format: PDF - [d]

Rastersondenmikroskopie, SPM
Vorlesungsskript. Universität Regensburg - Format: PDF - [d]

Rastersondenverfahren
Skript eines Vortrags. Universität des Saarlandes - Format: PDF - [d]



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Praktikumsskripten, praktische Anleitungen


Elektronenstrahlmikroanalyse
Praktikumsskript - Theorie: Rasterelektronenmikroskopie und Elektronenstrahlmikroanalyse - [d]

Rasterkraftmikroskopie
Praktikumsskript und theoretische Grundlagen. Universität Augsburg - Format: PDF - [d]

Rasterkraftmikroskopie
Praktikumsskript - Format: PDF - [d]

Rasterkraftmikroskopie
F-Praktikumsskript mit ausführlichen theoretischen Grundlagen. Universität Marburg - Format: PDF - [d]

Rasterkraftmikroskopie (AFM)
F-Praktikumsskript + theoretische Grundlagen. Universität Ulm - [d]

Rastersondenmikroskopie
F-Praktikumsskript mit ausführlichen theoretischen Grundlagen. Universität Bonn - Format: PDF - [d]

Rastertunnelmikroskopie
F-Praktikumsskript mit ausführlichen theoretischen Grundlagen. Universität Regensburg - [d]

Rastertunnelmikroskopie
52-seitiges Praktikumsskript mit ausführlichen theoretischen Grundlagen. Universität Hannover - [d]

Rastertunnelmikroskopie, STM
F-Praktikumsskript mit ausführlichen theoretischen Grundlagen. Universität Ulm - Format: PDF - [d]



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Journale, Fachzeitschriften


Journal of Scanning Probe Microscopy
... typically covers atomic force microscopy (AFM), scanning tunneling microscopy (STM), near-field scanning optical microscopy (NSOM, or SNOM) and related technologies. American Scientific Publishers - [e]



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Dissertationen


Dynamik der Spitze-Probe Wechselwirkung bei der Rasterkraftmikroskopie
Ziel der Arbeit war es, zum Verständnis bei der dynamischen Rasterkraftmikroskopie (AFM) im Tapping Mode (TMAFM) bei weichen Poymerproben beizutragen. Dissertation, 2001. Universität Freiburg - [d]

Entwicklung eines mobilen AFM-Messaufbaus für paralleles Scannen
Diplomarbeit, Physik. ETH Zürich - [d]

Meso- und Nanostrukturierung von Oberflächen ...
... mit supramolekularen Aggregaten und deren Charakterisierung mit dem Rasterkraftmikroskop. Dissertation, 1999. FU Berlin - [d]

Optische Rasternahfeldmikroskopie
Eine Methode für die Darstellung und Manipulation chromosomaler DNA. Dissertation, 2007. Universität des Saarlandes - [d]

Rasterkraftmikroskopie als Methode zur Charakterisierung amphiphiler Strukturen
Dissertation, 2002. Universität Regensburg - [d]

Rasterkraftmikroskopie an Einkristallen von Lithium- und Kalziumfluorid
... nach Bestrahlung mit Schwerionen. Dissertation, 2002. Universität Heidelberg - [d]

Rastersondenmikroskopie mit Hochfrequenzsignalen
Die Arbeit beschäftigt sich mit der Entwicklung und Verbesserung von Rastersondenmikroskopen durch den Anschluß eines Signalpfades für hochfrequente Wechselfelder (ca. 1 GHz). Dissertation, 2001. HU Berlin - [d]



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Artikel und Berichte


Bewegung im Nanokosmos
Forschern gelang es mit Hilfe eines Rasterkraftmikroskops die Bewegung von Molekülen, die in anderen größeren Molekülen eingesperrt sind, zu messen und zu kontrollieren. - [d]



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Institute und Foschungseinrichtungen


Giessen
Arbeitsgruppe Rastersondenmikroskopie (SXM). Universität Giessen - [d]

Oldenburg
Scanning Probe Methods Group. Universität Oldenburg - [d, e]









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Verlinkung:
www.internetchemie.info/chemie/rastersondenmikroskopie.htm
Einträge:
37
Thema:
Rastersondenmikroskopie
Stichworte:
Rastersondenkikroskopie, Rasterkraftmikroskopie, Grundlagen, Theorie, Anwendungen, Lehre, Forschung
Stand:
07.05.2010 00:00:00 [Überprüfung der Links]
 
25.04.2011 [Änderung der Seite]



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Literatur- und Buchempfehlungen zum Thema Rastersondenmikroskopie:


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David G. Rickerby, Giovanni Valdrè, Ugo Valdrè, Giovanni Valdre, Ugo Valdre

Impact of Electron and Scanning Probe Microscopy on Materials

This book presents a coherent synopsis of a rapidly evolving field. Subjects covered include diffraction contrast and defect analysis by conventional TEM lattice imaging, phase contrast and resolution limits in high resolution electron microscopy. Specialised electron diffraction techniques are also covered, as is the application of parallel electron energy loss spectroscopy and scanning transmission EM for subnanometer analysis. Materials analyzed include thin films, interfaces and non-conventional materials. WDS and EDS are treated, with an emphasis on phi(rhoZeta) techniques for the analysis of thin layers and surface films. Theoretical and practical aspects of ESEM are discussed in relation to applications in crystal growth, biomaterials and polymers. Recent developments in SPM are also described.

A comprehensive survey of the state of the art in electron and SPM, future research directions and prospective applications in materials engineering.

Springer; 2008


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